ไทย
English
日本語
ไทย
แผนที่
ติดต่อสอบถาม
ข้อมูลผลิตภัณฑ์
ข้อมูลเทคโนโลยี
คุณภาพ
ข้อมูลบริษัท
ร่วมงานกับเรา
ติดต่อสอบถาม
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน(SEM, EDS)
HOME
>
วิเคราะห์งานเคลือบมีปัญหา อายุการใช้งานแม่พิมพ์สั้น
>
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน(SEM, EDS)
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน(SEM, EDS)
ตรวจสอบพื้นผิว, วิเคราะห์สารประกอบวัสดุ (วิเคราะห์พื้นผิว, วิเคราะห์เชิงเส้น)
18/6/2014